介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀/介電常數(shù)測試儀
產(chǎn)品概述
介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗(yàn)儀滿足標(biāo)準(zhǔn):GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法
GDAT高頻 Q 表作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達(dá)到目前高的160MHz。
主要技術(shù)特性
Q 值測量范圍 2 ~ 1023 , 量程分檔: 30 、 100 、 300 、 1000 ,自動換檔或手動換檔
固有誤差 :
≤ 5 % ± 滿度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ), ≤6% ± 滿度值的2%(10MHz~160MHz)
工作誤差:
≤7% ± 滿度值的2% ( 200kHz ~ 10MHz ), ≤8% ± 滿度值的2%(10MHz~160MHz)
電感測量范圍 4.5nH ~ 140mH
電容直接測量范圍 1 ~ 200pF
主電容調(diào)節(jié)范圍 18 ~ 220pF
主電容調(diào)節(jié)準(zhǔn)確度 100pF 以下 ± 1pF ; 100pF 以上 ± 1 %
信號源頻率覆蓋范圍 100kHz ~ 160MHz
頻率分段 ( 虛擬 ) 100 ~ 999.999kHz , 1 ~ 9.99999MHz,10 ~ 99.9999MHz , 100 ~ 160MHz
頻率指示誤差 3 × 10 -5 ± 1 個(gè)字
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試步驟:
介電常數(shù)Σ的測試
a. 再松開二極片,把被測樣品插入二極片之間,調(diào)節(jié)平板電容器,到二極片夾住樣品止(注意調(diào)節(jié)時(shí)要用測微桿,以免夾得過緊或過松),這時(shí)能讀取的測試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值,既是樣品的厚度D2。改變Q 表上的主調(diào)電容容量,使Q 表處于諧振點(diǎn)上。
b. 取出平板電容器中的樣品,這時(shí)Q 表又失諧,此時(shí)調(diào)節(jié)平板電容器,使Q 表再回到諧振點(diǎn)上,讀取測試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值記為D4
c. 計(jì)算被測樣品的介電常數(shù):
Σ=D2 / D4
5.介質(zhì)損耗系數(shù)的測試
a. 重新把測試裝置上的夾具插頭插入到Q 表測試回路的“電容”兩個(gè)端上。把被測樣品插入二極片之間,改變Q 表上的主調(diào)電容容量,使Q 表處于諧振點(diǎn)上,讀得Q 值,記為Q2。電容讀數(shù)記為C2。
b. 取出平板電容器中的樣品,這時(shí)Q 表又失諧,再改變Q 表上的主調(diào)電容容量,使Q 表重新處于諧振點(diǎn)上。讀得Q 值,記為Q1。電容讀數(shù)記為C1。
c. 然后取下測試裝置,再改變Q 表上的主調(diào)電容容量,重新使之諧振,電容讀數(shù)記為C3,此時(shí)可計(jì)算得到測試裝置的電容為CZ = C3 -C1
d. 計(jì)算被測樣品的介質(zhì)損耗系數(shù)
式中:CZ 為測試裝置的電容(平板電容器二極片間距為樣品的厚度D2)
C0 為測試電感的分布電容(參考LKI-1 電感組的分布電容值)
- 上一個(gè): BWR-A熱變形維卡軟化點(diǎn)測試儀,維卡軟化點(diǎn)測試儀
- 下一個(gè): 介電常數(shù)測試儀成交價(jià)格